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產(chǎn)品展示
型號(hào):GL-CST-50
更新時(shí)間:2023-04-24
簡要描述:
GL-CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我們根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2007《金屬夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對(duì),以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優(yōu)點(diǎn)是操作簡便,檢查對(duì)比直觀,效率高。
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